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신뢰성 시험

신뢰성 시험은 부품 소재나 제품이 개발 초기 단계에서 개발이 이루어지기까지 품질과 성능 그리고 안정성을 확보하기 위하여 지리적 기후적 특성을 고려한 환경시험과 안전시험, 노이즈 인가시험, 기구적시험 등으로 구분 시험 할 수 있습니다.

구분 시험 항목명 대상 품목
환경시험

저온 동작 / 보존 시험
고온 동작 / 보존 시험
고온고습시험
온도 상승 시험
열충격 시험
온/습도 싸이클 시험
온도 STEP 시험
감압시험
염수분무시험

· 항목 별
전장품 시험
국내 해외 규격 시험
가속 수명 시험

· 품목 별
System
Module & Assy
부품소자

안전시험

INPUT TEST
소비전력시험
절연저항시험
내전압 시험
누설전류시험
Derating
전압/주파수 변동시험
강구 충격시험

노이즈시험

전원 DIP시험
전원 Impulse시험
FNS 시험
정전기 시험
낙뢰시험
전원 SHOCK시험

기구적시험

자유낙하시험
충격시험
진동시험

특수시험

수명시험
먼지시험
방수시험
재현시험

신뢰성 검증

장비 보유 현황

구분 장비명 비고
온습도 항온항습기, 열충격시험기, 고속 챔버
기계 충격 낙하, 복함진동시험기, 충격시험기
특수 환경 방수시험기 , 염수분무시험 , 분진시험기
EMS 정전기시험기, Lighting Surge, 전원 Dip, Surge Test, Impulse Noise, FNS
안전 내압, 절연저항, Leakage Meter
수명 복합 가속 시험, HAST
고장 분석 Thermo Tracer, Digital Scope, Video 현미경, Logic Analyzer, 온도 레코더, Curve Tracer
전기 특성 Audio Analyzer, Power Source, LCR Meter, Color Analyzer, Spectrum Analyzer, Video Generator, Function Generator, Low Resistance Meter, Blooth Test Set, Logic Analyzer
기타 차폐 룸

대응 가능 신뢰성 규격

  • 전장품 시험

    · AEC : AEC Q100, AEC Q200
    · GM : GMW-3172
    · Chrysler : CS11982
    · Peugeot : PSA B21 7130
    · JASO
    · 현대 , 기아 : ES 규격
    · 쌍용 : SES-E 규격

  • 국내 해외 규격 시험

    · IEC : IEC 60068
    · ISO : ISO 16750
    · MIL : MIL-STD-810G
    · JEDEC
    · IEC KS

가속 수명 시험

제품, 모듈, 부품의 내구 한도(수명)를 알기 위한 방법, Fields 사용환경 최대 악조건 내에서 가속 Stress를 주어 대상물의 수명을 예측하기 위한 방법으로 가속 수명 시험.

가속 수명 시험의 단계 및 절차

고장메너키즘과 스트레스인자 도출

4 Step Test Program Method (LEd Module)

1. Architecture and Failure Mode

2. Potential Failure Mechanism

No Failure Site Potential Failure Mechanism
1 Chip 전기적 특성 열화, Open, Short
2 Molding 열화 변색
3 Phosper 광효율 저하
4 Wire Lead Crack, Open, 산화

3. Dominant Failure Mechanism

Test Contents HAST (DUTY) 저온 고온 고습 Thermal Shock Test 온도 Cycle
No failure Mechanism Weight
1 Chip 광효율저하 11 0 0 0 0 0
2 고Molding 열화 9 0 0 0 0
3 형광 효율 저하 8 0 0 0
4 Junction 파괴 7 0 0 0

4. Acceleration Test

Test Contents Weight HAST (DUTY) 저온 고온 열충격
1 ship 광효율 저하 0 0 0 0
2 고Molding 열화 11 0 0 0
3 형광 효율 저하 9 0 0
4 junction 파괴 8 0 0 0

가속 수명 시험 설계

수명 예측